Robustness of electrical quality of ion implanted black silicon emitters: Comparison between different ion implantation service providers
Publiceringsår
2024
Upphovspersoner
Morozova, Olga; Chen, Kexun; Radfar, Behrad; Kentsch, Ulrich; Antwis, Luke; Savin, Hele; Vähänissi, Ville
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Proceedings of the 41st European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition
Konferens
Förläggare
ISBN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Materialteknik
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.4229/EUPVSEC2024/1CV.2.19
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja