(poster) Robustness of electrical quality of ion implanted black silicon emitters: Comparison between different ion implantation service providers
Publiceringsår
2024
Upphovspersoner
Morozova, Olga; Chen, Kexun; Radfar, Behrad; Kentsch, Ulrich; Antwis, Luke; Savin, Hele; Vähänissi, Ville
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Abstrakt
Moderpublikationens typ
Konferens
Målgrupp
Vetenskaplig
Publikationskanalens uppgifter
Konferens
Proceedings (EU PVSEC)
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Materialteknik
Nyckelord
[object Object]
Förlagets internationalitet
Inhemsk
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej