Comparing novel small-angle x-ray scattering approaches for absolute size and number concentration measurements of spherical SiO<sub>2</sub> particles to established methods

Publiceringsår

2024

Upphovspersoner

Schürmann, Robin; Gaál, Anikó; Sikora, Aneta; Ojeda, David; Bartczak, Dorota; Goenaga-Infante, Heidi; Korpelainen, Virpi; Sauvet, Bruno; Deumer, Jérôme; Varga, Zoltán; Gollwitzer, Christian

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Sauvet Bruno

Korpelainen Virpi

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

Nanotechnology

Volym

Nummer

Artikelnummer

385701

ISSN

0957-4484

Publikationsforum

63717

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Öppen tillgång till publikationskanalen

Delvis öppen publikationskanal

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Teknisk kemi, kemisk processteknik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

DOI

10.1088/1361-6528/ad568b