(oral talk) Passivation of Detector‐Grade FZ‐Si with ALD‐Grown Aluminium Oxide
Publiceringsår
2019
Upphovspersoner
Pasanen, Toni; Ott, Jennifer; Repo, Päivikki; Seppänen, Heli; Vähänissi, Ville; Savin, Hele
Organisationer och upphovspersoner
Aalto-universitetet
Savin Hele 
Seppänen Heli
Ott Jennifer
Repo Päivikki
Pasanen Toni
Vähänissi Ville
Publikationstyp
Publikationsform
Abstrakt
Moderpublikationens typ
Konferens
Målgrupp
Vetenskaplig
Publikationskanalens uppgifter
Konferens
Conference on gettering and defect engineering in semiconductor technology
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik; Materialteknik
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Förlagets internationalitet
Inhemsk
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej