SIMS- and NRA-measurements of depth profiles of implanted ions
Publiceringsår
1992
Upphovspersoner
Likonen, Jari; Hautala, Mikko
Organisationer och upphovspersoner
Teknologiska forskningscentralen VTT Ab
Likonen Jari
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
8th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VIII)
Förläggare
Wiley
Sidor
415-418
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ingen information
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej