undefined

Perspectives on Black Silicon in Semiconductor Manufacturing: Experimental Comparison of Plasma Etching, MACE and Fs-Laser Etching

Publiceringsår

2022

Upphovspersoner

Liu, Xiaolong; Radfar, Behrad; Chen, Kexun; Setälä, Olli; Pasanen, Toni; Yli-Koski, Marko; Savin, Hele; Vähänissi, Ville

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Radfar Behrad Orcid -palvelun logo

Savin Hele Orcid -palvelun logo

Chen Kexun Orcid -palvelun logo

Yli-Koski Marko Orcid -palvelun logo

Setälä Olli Orcid -palvelun logo

Pasanen Toni Orcid -palvelun logo

Vähänissi Ville Orcid -palvelun logo

Liu Xiaolong Orcid -palvelun logo

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Förläggare

IEEE

Volym

35

Nummer

3

Sidor

504-510

Publikationsforum

57576

Publikationsforumsnivå

1

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Ja

Öppen tillgång till publikationskanalen

Delvis öppen publikationskanal

Parallellsparad

Ja

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Materialteknik

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/TSM.2022.3190630

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Ja