Characterization of Nb/Al-AlOx/Nb Josephson junction structures by SIMS, RS and anodization spectroscopy
Publiceringsår
1994
Upphovspersoner
Likonen, Jari; Saarilahti, J.; Grönberg, Leif; Kiviranta, Mikko
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
Ninth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS IX
Förläggare
Wiley-Blackwell
Sidor
531-534
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Data- och informationsvetenskap; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik
Nyckelord
[object Object]
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej