On-wafer noise parameter measurements at 60 GHz
Publiceringsår
1997
Upphovspersoner
Lahdes, Manu; Sipilä, Markku; Tuovinen, Jussi
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
IEEE Workshop on Experimentally based FET Device Modelling & Related Nonlinear Circuit Design
Förläggare
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sidor
13.1-13.6
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ja
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Identifierade tema
[object Object]
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej