Investigation of annealing behaviour of implanted nitrogen in InP by SIMS, NRB and RBS
Publiceringsår
1997
Upphovspersoner
Likonen, Jari; Väkeväinen, K.; Ahlgren, T.; Räisänen, Jyrki; Rauhala, Esko; Keinonen, J.
Organisationer och upphovspersoner
Teknologiska forskningscentralen VTT Ab
Likonen Jari
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
10th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X)
Förläggare
Wiley
Sidor
903-906
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ingen information
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej