Novel microelectromechanical references for electric metrology
Publiceringsår
2000
Upphovspersoner
Kyynäräinen, Jukka; Oja, Aarne; Seppä, Heikki
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Proceedings of the Symposium on Microtechnology in Metrology and Metrology in Microsystems
Konferens
Symposium on Microtechnology in Metrology and Metrology in Microsystems
Förläggare
Delft Technical University
Sidor
31-39
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej