Very wideband automated on-wafer noise figure and gain measurements at 50-110 GHz
Publiceringsår
2003
Upphovspersoner
Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Kantanen, Mikko; Karttaavi, Timo; Tuovinen, Jussi
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Förläggare
European Microwave Association (EuMA)
Sidor
233-236
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej