undefined

Very wideband automated on-wafer noise figure and gain measurements at 50-110 GHz

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Kantanen, Mikko; Karttaavi, Timo; Tuovinen, Jussi

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Lahdes Manu

Kantanen Mikko Orcid -palvelun logo

Vähä-Heikkilä Tauno

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej