undefined

< Tillbaka till sökresultaten

Wideband cryogenic on-wafer measurements at 20 - 295 K and 50-110 GHz

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Vähä-Heikkilä, Tauno; Varis, Jussi; Hakojärvi, Hannu; Tuovinen, Jussi

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Hakojärvi Hannu

Tuovinen Jussi

Varis Jussi

Vähä-Heikkilä Tauno

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

Proceedings of the 33rd European Microwave Conference 2003

Konferens

33rd European Microwave Conference, EuMC 2003

Förläggare

IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers

Sidor

1167-1170

ISBN

1-58053-834-7

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/EUMA.2003.341147

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej