undefined

New methods for the assessment of ESD threats to electronic components

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Paasi, Jaakko; Smallwood, Jeremy; Salmela, Hannu

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Salmela Hannu Orcid -palvelun logo

Paasi Jaakko Orcid -palvelun logo

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

2003 EOS/ESD Symposium Proceedings

Konferens

25th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS-25

Förläggare

IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers

Sidor

151-160

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej