New methods for the assessment of ESD threats to electronic components
Publiceringsår
2003
Upphovspersoner
Paasi, Jaakko; Smallwood, Jeremy; Salmela, Hannu
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
25th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS-25
Förläggare
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sidor
151-160
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Nyckelord
[object Object]
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej