undefined

Verification of cryogenic on-wafer measurements for space applications

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Karvonen, Anna; Varis, Jussi; Hakojärvi, Hannu; Tuovinen, Jussi

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Karvonen Anna

Hakojärvi Hannu

Tuovinen Jussi

Varis Jussi

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Inte kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

B3 Icke-referentgranskad artikel i konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Konferens

54th International Astronautical Congress of the International Astronautical Federation, the International Academy of Astronautics, and the International Institute of Space Law

Förläggare

American Institute of Aeronautics and Astronautics (AIAA)

Sidor

1375-1383

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.2514/6.IAC-03-U.P.02

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej