Electrostatic field limits and charge threshold for field induced damage to voltage susceptible devices
Publiceringsår
2004
Upphovspersoner
Paasi, Jaakko; Salmela, Hannu; Smallwood, Jeremy
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
Konferens
26th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2004
Förläggare
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sidor
229-237
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1109/EOSESD.2004.5272605
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej