Machine Learning-based Defect Coverage Boosting of Analog Circuits under Measurement Variations
Publiceringsår
2020
Upphovspersoner
Xama, Nektar; Andraud, Martin; Gomez, Jhon; Esen, Baris; Dobbelaere, Wim; Vanhooren, Ronny; Coyette, Anthony; Gielen, Georges
Organisationer och upphovspersoner
Aalto-universitetet
Andraud Martin 
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Tidning
Artikelstyp
En originalartikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskriftPublikationskanalens uppgifter
Förläggare
Volym
25
Nummer
5
Artikelnummer
47
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object]
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Ja
DOI
10.1145/3408063
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja