< Tillbaka till sökresultaten

Modeling Field-effect in Black Silicon and its Impact on Device Performance

Publiceringsår

2020

Upphovspersoner

Heinonen, Juha; Pasanen, Toni; Vähänissi, Ville; Juntunen, Mikko; Savin, Hele

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Savin Hele

Heinonen Juha

Pasanen Toni

Vähänissi Ville

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

IEEE Transactions on Electron Devices

Förläggare

Volym

67

Nummer

4

Artikelnummer

9027860

Sidor

1645-1652

ISSN

Publikationsforum

Publikationsforumsnivå

2

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Ja

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Materialteknik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Ja

DOI

10.1109/TED.2020.2975145

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Ja