Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Publiceringsår

2019

Upphovspersoner

Tuomisto, Filip

Organisationer och upphovspersoner

Helsingfors universitet

Tuomisto Filip

Publikationstyp

Publikationsform

Redaktionsarbete

Moderpublikationens typ

Samlingsverk

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

C2 Redigerad bok, samlingsverk, konferenspublikation eller specialnummer av en tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik; Materialteknik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Publiceringsland

Förenade kungariket

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej