Positron annihilation spectroscopy, experimental and theoretical aspects

Publiceringsår

2019

Upphovspersoner

Slotte, Jonatan; Makkonen, Ilja; Tuomisto, Filip

Organisationer och upphovspersoner

Helsingfors universitet

Tuomisto Filip

Makkonen Ilja

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Samlingsverk

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A3 Del av bok eller annat samlingsverk

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Förläggare

Institution of engineering and technology

Sidor

263-288

ISBN

978-1-78561-655-6

Publikationsforum

5512

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik

Nyckelord

[object Object]

Publiceringsland

Förenade kungariket

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1049/pbcs045e_ch6