< Tillbaka till sökresultaten

On-wafer noise parameter measurements at W-band

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Kantanen, Mikko; Tuovinen, Jussi

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Lahdes Manu

Kantanen Mikko

Vähä-Heikkilä Tauno

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

Volym

51

Nummer

6

Sidor

1621-1628

ISSN

Publikationsforum

Publikationsforumsnivå

3

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/TMTT.2003.812554

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej