undefined

< Tillbaka till sökresultaten

A wide-band on-wafer noise parameter measurement system at 50-75 GHz

Publiceringsår

2003

Upphovspersoner

Kantanen, Mikko; Lahdes, Manu; Vähä-Heikkilä, Tauno; Tuovinen, Jussi

Organisationer och upphovspersoner

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Lahdes Manu

Kantanen Mikko Orcid -palvelun logo

Vähä-Heikkilä Tauno

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

Volym

51

Nummer

5

Sidor

1489-1495

ISSN

0018-9480

Publikationsforum

57558

Publikationsforumsnivå

3

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/TMTT.2003.810129

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Nej