Extended Defects in Silicon Carbide Single Crystal Material

Publiceringsår

2002

Upphovspersoner

Yakimova, R.; Jacobson, H.; Vouroutzis, N.; Syväjärvi, M.; Stoemenos, J.; Tuomi, T.; Janzén, E.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

International Conference Extended Defects in Semiconductors, Bologna, Italy, 1-6 June, 2002

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej