Synchrotron x-ray topographic study of a 'perfect' silicon crystal

Publiceringsår

2000

Upphovspersoner

Rantamäki, R.; Tuomi, T.; McNally, P.J.; Danilewsky, A.N.; Becker, P.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Separat verk

Målgrupp

Facklig

UKM:s publikationstyp

D4 Publicerad utvecklings- eller forskningsrapport eller -utredning

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Inhemsk

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej