Synchrotron topography for defect characterization in III-V semiconductors.
Publiceringsår
1995
Upphovspersoner
Tuomi, T.; Danilewsky, A.; McNally, P.; Taskinen, M.; Schweitzer, M.
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Separat verk
Målgrupp
Facklig
UKM:s publikationstyp
D4 Publicerad utvecklings- eller forskningsrapport eller -utredning
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Nyckelord
[object Object]
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja