Failure analysis of LED arrays using white beam synchrotron x-ray topography

Publiceringsår

2000

Upphovspersoner

Lowney, D.; McNally, P.J.; "O'Hare", M.; Herbert, P.A.F.; Tuomi, T.; Rantamäki, R.; Karilahti, M.; Danilewsky, A.N.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

3rd Int. Conf. on Materials for Microelectronics (MFM2000), Dublin Castle, Ireland, 16-17 October, 2000

Sidor

37-41

ISBN

1-86125-129-7

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej