New verification routine for pulsed I-V and transient current measurement setup applied to a THz Schottky diode

Publiceringsår

2013

Upphovspersoner

Khanal, Subash; Kiuru, Tero; Mallat, Juha; Räisänen, Antti V.; Närhi, Tapani

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Räisänen Antti

Mallat Juha

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

43rd European Microwave Conference (EuMW 2013), Nuremberg, Germany, October 6-11, 2013

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; Rymdvetenskap och astronomi; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik; Materialteknik; Nanoteknologi; Geovetenskaper

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.23919/EuMC.2013.6686898