White beam synchrotron x-ray topography and x-ray diffraction measurements of epitaxial lateral overgrowth of GaN

Publiceringsår

2002

Upphovspersoner

Chen, W.M.; McNally, P.J.; Jacobs, K.; Tuomi, T.; Danilewsky, A.N.; Lowney, D.; Kanatharana, J.; Knuuttila, L.; Riikonen, J.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Separat verk

Målgrupp

Facklig

UKM:s publikationstyp

D4 Publicerad utvecklings- eller forskningsrapport eller -utredning

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej