Comparative analysis of synchrotron X-ray transmission and reflection topography techniques applied to epitaxial laterally overgrown GaAs layers

Publiceringsår

2000

Upphovspersoner

Rantamäki, R.; Tuomi, T.; Zytkiewicz, Z.R.; McNally, P.J.; Danilewsky, A.N.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Journal of X-Ray Science and Technology

Förläggare

IOS PRESS

Volym

Nummer

Sidor

277-288

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej