Electron Probe Microanalysis of Ni Silicides Using Ni-L X-Ray Lines

Publiceringsår

2016

Upphovspersoner

Llovet, Xavier; Pinard, Philippe T.; Heikinheimo, Erkki; Louhenkilpi, Seppo; Richter, Silvia

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Louhenkilpi Seppo

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Microscopy and Microanalysis

Förläggare

Oxford University Press

Volym

Nummer

Sidor

1233-1243

ISSN

1431-9276

Publikationsforum

63345

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Materialteknik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1017/S1431927616011831