Transimission electron energy-loss spectroscopy measurements of the dielectric function of Si/SiO2 multilayers

Publiceringsår

1998

Upphovspersoner

Keränen, J.; Lepistö, T.; Ryen, L.; Novikov, S.V.; Olsson, E.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

Journal of Applied Physics

Förläggare

American Institute of Physics

Volym

Nummer

Sidor

6827-6831

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object]

Identifierade tema