Characterization of doped strontium sulfide thin films by secondary ion mass spectrometry, Rutherford backscattering spectrometry and x-ray fluorescence spectrometry

Publiceringsår

1994

Upphovspersoner

Lehto, S.; Soininen, P.; Niinistö, L.; Likonen, J.; Lappalainen, R.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Analyst

Förläggare

Royal Society of Chemistry

Volym

119

Sidor

1725-1729

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej