White beam synchrotron x-ray topography and x-ray diffraction measurements of epitaxial lateral overgrowth of GaN

Publiceringsår

2002

Upphovspersoner

Chen, W.M.; McNally, P.J.; Jacobs, K.; Tuomi, T.; Danilewsky, A.N.; Lowney, D.; Kanatharana, J.; Knuuttila, L.; Riikonen, J.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Materials Research Society Symposia Proceedings

Förläggare

SPRINGER

Nummer

693

Sidor

pp. I3.27.1-I3.27.6

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej