Detailed scanning probe microscopy tip models determined from simultaneous atom-resolved AFM and STM studies of the TiO<sub>2</sub> (110) surface

Publiceringsår

2008

Upphovspersoner

Enevoldsen, Georg H.; Pinto, Henry P.; Foster, Adam S.; Jensen, Mona C.R.; Kühnle, Angelika; Reichling, Michael; Hofer, Werner A.; Lauritsen, Jeppe V.; Besenbacher, Flemming

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Foster Adam

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

Physical Review B

Förläggare

American Physical Society

Volym

Nummer

Artikelnummer

045416

Sidor

1-19

ISSN

1098-0121

Publikationsforum

65024

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Öppen tillgång till publikationskanalen

Helt öppen publikationskanal

Parallellsparad

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; Maskin- och produktionsteknik; Miljöteknik; Nanoteknologi

Nyckelord

[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1103/PhysRevB.78.045416