AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy
Publiceringsår
2010
Upphovspersoner
Barth, C.; Hynninen, T.; Bieletzki, M.; Henry, C.R.; Foster, A.S.; Esch, F.; Heiz, U.
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Tidning
Artikelstyp
En originalartikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskriftPublikationskanalens uppgifter
Journal
New Journal of Physics
Förläggare
Institute of Physics Publishing
Volym
12
Nummer
September 2010
Artikelnummer
093024
Sidor
1-14
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ja
Öppen tillgång till publikationskanalen
Helt öppen publikationskanal
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik; Maskin- och produktionsteknik; Miljöteknik; Nanoteknologi
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object]
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1088/1367-2630/12/9/093024
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja