Influence of surface topography on depth profiles obtained by Rutherford backscattering spectrometry

Publiceringsår

2000

Upphovspersoner

Slotte, J.; Laakso, A.; Ahlgren, Tommy; Rauhala, Eero; Salonen, R.; Räisänen, J.; Simon, A.; Uzonyi, I.; Kiss, A.Z.; Somorjai, E.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Laakso Antti

Slotte Jonatan

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Journal of Applied Physics

Förläggare

American Institute of Physics

Volym

Nummer

Sidor

140-143

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1063/1.371835