The Effect of Oxygenation on the Radiation Hardness of Silicon Studied by Surface Photovoltage Method

Publiceringsår

2002

Upphovspersoner

Yli-Koski, Marko; Härkönen, Jaakko; Tuominen, Eija; Lassila-Perini, Kati; Mehtälä, P.; Nummela, Saara; Nysten, J.; Heikkilä, Paula; Ovchinnikov, Victor; Palokangas, Martti; Palmu, Leena; Kallijärvi, S.; Alanko, Tommi; Laitinen, Pauli; Pirojenko, A; Riihimäki, I.; Tiourine, G.; Virtanen, Ari

Visa mer

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Yli-Koski Marko

Ovchinnikov Victor

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

IEEE Transactions on Nuclear Science

Förläggare

IEEE

Volym

Nummer

Sidor

2910-2913

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej