Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements
Publiceringsår
2010
Upphovspersoner
Sintonen, Sakari; Suihkonen, Sami; Svensk, Olli; Törmä, Pekka Tuomas; Ali, Muhammad; Sopanen, Markku; Lipsanen, Harri
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Tidning
Artikelstyp
En originalartikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskriftPublikationskanalens uppgifter
Förläggare
Volym
7
Nummer
7-8
Sidor
1790-1793
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik; Kemi; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik; Materialteknik; Nanoteknologi; Medicinsk bioteknologi
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1002/pssc.200983630
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja