undefined

Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements

Publiceringsår

2010

Upphovspersoner

Sintonen, Sakari; Suihkonen, Sami; Svensk, Olli; Törmä, Pekka Tuomas; Ali, Muhammad; Sopanen, Markku; Lipsanen, Harri

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Lipsanen Harri Orcid -palvelun logo

Sopanen Markku Orcid -palvelun logo

Ali Muhammad

Svensk Olli

Törmä Pekka

Sintonen Sakari

Suihkonen Sami

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Förläggare

Wiley

Volym

7

Nummer

7-8

Sidor

1790-1793

Publikationsforum

65012

Publikationsforumsnivå

1

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; Kemi; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik; Materialteknik; Nanoteknologi; Medicinsk bioteknologi

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1002/pssc.200983630

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Ja