AFM, SEM, XPS and RHEED investigation of TiO2 thin films grown by atomic layer deposition

Publiceringsår

1997

Upphovspersoner

Sammelselg, V.; Rosental, A.; Tarre, A.; Niinistö, L.; Johansson, L.-S.; Uustare, T.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

The 4th Baltic Symposium on Atomic Layer Epitaxy, Tartto, Viro, 10.-11.10.1997

Sidor

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej