Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam
Publiceringsår
2013
Upphovspersoner
Bates, R.; Blue, Andrew; Christophersen, M.; Eklund, L.; Ely, S.; Fadeyev, V.; Gimenez, E.; Kachkanov, V.; Kalliopuska, Juha; Macchiolo, A.; Maneuski, D.; Phlips, B.F.; Sadrozinski, F.-W.; Stewart, G.; Tartoni, N.; Zain, R.M.
Organisationer och upphovspersoner
Teknologiska forskningscentralen VTT Ab
Kalliopuska Juha
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Tidning
Artikelstyp
En originalartikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskriftPublikationskanalens uppgifter
Journal
Volym
8
Artikelnummer
P01018
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Nej
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik
Nyckelord
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1088/1748-0221/8/01/P01018
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja