Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers

Publiceringsår

2018

Upphovspersoner

Kupsc, Pawel; Javanainen, Arto; Ferlet-Cavrois, Véronique; Muschitiello, Michele; Barnes, Andrew; Zadeh, Ali; Calcutt, Jordan; Poivey, Christian; Stieglauer, Hermann; Voss, Kay-Obbe

Organisationer och upphovspersoner

Jyväskylä universitet

Javanainen Arto

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

IEEE Transactions on Nuclear Science

Förläggare

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Volym

Nummer

Sidor

732-738

ISSN

0018-9499

Publikationsforum

57566

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object]

Publiceringsland

Förenta staterna (USA)

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

DOI

10.1109/TNS.2018.2791564