Contactless analysis of surface passivation and charge transfer at the TiO <sub>2</sub>-Si interface
Publiceringsår
2024
Upphovspersoner
Khan, Ramsha; Liu, Xiaolong; Vähänissi, Ville; Ali-Löytty, Harri; Pasanen, Hannu P.; Savin, Hele; Tkachenko, Nikolai V.;
Organisationer och upphovspersoner
Tammerfors universitet
Khan Ramsha
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Tidning
Artikelstyp
En originalartikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskriftPublikationskanalens uppgifter
Förläggare
Volym
26
Nummer
21
Sidor
15268-15276
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
3
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ja
Öppen tillgång till publikationskanalen
Delvis öppen publikationskanal
Parallellsparad
Ja
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik; Materialteknik
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1039/D4CP00992D
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja