undefined

Regularity or Anomaly? On The Use of Anomaly Detection for Fine-Grained JIT Defect Prediction

Publiceringsår

2022

Upphovspersoner

Lomio, Francesco; Pascarella, Luca; Palomba, Fabio; Lenarduzzi, Valentina;

Organisationer och upphovspersoner

Uleåborgs universitet

Lenarduzzi Valentina

Tammerfors universitet

Lomio Francesco Orcid -palvelun logo

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens redaktörer

Callico, Gustavo M.;Hebig, Regina;Wortmann, Andreas;

Förläggare

IEEE

Sidor

270-273

Publikationsforum

71898

Publikationsforumsnivå

1

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Licens för förläggarens version

Annan licens

Parallellsparad

Ja

Parallellagringens licens

Muu lisenssi

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Data- och informationsvetenskap

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Publiceringsland

Förenta staterna (USA)

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Ja

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/SEAA56994.2022.00049

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Ja