Experimental investigation of traps in THz Schottky diodes

Publiceringsår

2016

Upphovspersoner

Khanal, Subash; Kiuru, Tero; Seppä, Heikki; Mallat, Juha; Piironen, Petri; Räisänen, Antti V.

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Räisänen Antti

Mallat Juha

Khanal Subash

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Seppä Heikki

Kiuru Tero

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Artikelnummer

7500306

ISBN

978-1-5090-1348-7

Publikationsforum

5475

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1109/GSMM.2016.7500306