Atomic force microscope adhesion measurements and atomistic molecular dynamics simulations at different humidities

Publiceringsår

2017

Upphovspersoner

Seppa, Jeremias; Reischl, Bernhard; Sairanen, Hannu; Korpelainen, Virpi; Husu, Hannu; Heinonen, Martti; Raiteri, Paolo; Rohl, Andrew L.; Nordlund, Kai; Lassila, Antti

Organisationer och upphovspersoner

Helsingfors universitet

Reischl Bernhard

Nordlund Kai

Teknologiska forskningscentralen VTT Ab

Lassila Antti

Sairanen Hannu

Seppä Jeremias

Heinonen Martti

Korpelainen Virpi

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal

Measurement science and technology

Moderpublikationens namn

Measurement Science and Technology

Volym

Nummer

Artikelnummer

034004

ISSN

0957-0233

Publikationsforum

63079

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Matematik; Fysik; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik

Nyckelord

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Publiceringsland

Förenade kungariket

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Sampublikation med ett företag

DOI

10.1088/1361-6501/28/3/034004