Degradation of the charge collection efficiency of an n-type Fz silicon diode subjected to MeV proton irradiation
Publiceringsår
2015
Upphovspersoner
Barbero, Nicolo; Forneris, Jacopo; Grilj, Veljko; Jaksic, Milko; Raisanen, Jyrki; Simon, Aliz; Skukan, Natko; Vittone, Ettore
Organisationer och upphovspersoner
Helsingfors universitet
Raisanen Jyrki
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Journal/Serie
Moderpublikationens namn
Volym
348
Sidor
260-264
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ingen information
Parallellsparad
Okänd
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik
Publiceringsland
Italien
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Okänd
DOI
10.1016/j.nimb.2014.11.019
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja