Preface: Proceedings of Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle (VALID) 2010
Publiceringsår
2010
Upphovspersoner
Alimohammad, A.; Baruzzo, A.; Du Bousquet, L.; Dini, P.; Muccini, H.; Klaus, A.; Perälä, Juho; Pandini, D.; Senguttuvan, R.; Sinha, A.; Stefanescu, A.; Vermeulen, B.; Van Baelen, S.; Gross, H.-G.
Organisationer och upphovspersoner
Teknologiska forskningscentralen VTT Ab
Perälä Juho
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Samlingsverk
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Inte kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
B2 Del av bok eller annat samlingsverkPublikationskanalens uppgifter
Moderpublikationens namn
Konferens
2nd International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, VALID 2010
Förläggare
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sidor
viii-ix
ISBN
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ja
Parallellsparad
Nej
Övriga uppgifter
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Nej
Sampublikation med ett företag
Nej
DOI
10.1109/VALID.2010.4
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Nej