Diffraction imaging of microdefects in Czochralski silicon

Publiceringsår

2002

Upphovspersoner

Tuomi, T.; McNally, P.J.; Lowney, D.; Becker, Peter

Organisationer och upphovspersoner

Aalto-universitetet

Publikationstyp

Publikationsform

Separat verk

Rapport

Målgrupp

Facklig

UKM:s publikationstyp

D4 Publicerad utvecklings- eller forskningsrapport eller -utredning

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Nej

Parallellsparad

Nej

Övriga uppgifter

Nyckelord

[object Object],[object Object]

Identifierade tema

[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej