Application of a bandwidth correction method to thin-film reflectance measurements

Publiceringsår

2026

Upphovspersoner

Danilenko, Aleksandr; Rastgou, Masoud; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki

Organisationer och upphovspersoner

Östra Finlands universitet

Danilenko Aleksandr

Aalto-universitetet

Ikonen Erkki

Manoocheri Farshid

Rastgou Masoud

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Tidning

Artikelstyp

En originalartikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A1 Originalartikel i en vetenskaplig tidskrift

Publikationskanalens uppgifter

Journal/Serie

Metrologia

Volym

Nummer

Artikelnummer

015007

ISSN

0026-1394

Publikationsforum

63305

Publikationsforumsnivå

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Öppen tillgång till publikationskanalen

Delvis öppen publikationskanal

Licens för förläggarens version

CC BY

Parallellsparad

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik

Identifierade tema

[object Object]

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Nej

Sampublikation med ett företag

Nej

DOI

10.1088/1681-7575/ae3e94