Single-parameter model for the post-breakdown conduction characteristics of HoTiOx-based MIM capacitors
Publiceringsår
2014
Upphovspersoner
Blasco, J.; Castan, H.; Garcia, H.; Duenas, S.; Sune, J.; Kemell, M.; Kukli, K.; Ritala, M.; Leskelä, M.; Miranda, E.
Organisationer och upphovspersoner
Publikationstyp
Publikationsform
Artikel
Moderpublikationens typ
Konferens
Artikelstyp
Annan artikel
Målgrupp
VetenskapligKollegialt utvärderad
Kollegialt utvärderadUKM:s publikationstyp
A4 Artikel i en konferenspublikationPublikationskanalens uppgifter
Journal/Serie
Moderpublikationens namn
Konferens
European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Volym
54
Nummer
9-10
Sidor
1707-1711
ISSN
Publikationsforum
Publikationsforumsnivå
1
Öppen tillgång
Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst
Ingen information
Parallellsparad
Okänd
Övriga uppgifter
Vetenskapsområden
Fysik; Kemi
Publiceringsland
Tyskland
Förlagets internationalitet
Internationell
Språk
engelska
Internationell sampublikation
Ja
Sampublikation med ett företag
Okänd
DOI
10.1016/j.microrel.2014.07.067
Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling
Ja