undefined

Single-parameter model for the post-breakdown conduction characteristics of HoTiOx-based MIM capacitors

Publiceringsår

2014

Upphovspersoner

Blasco, J.; Castan, H.; Garcia, H.; Duenas, S.; Sune, J.; Kemell, M.; Kukli, K.; Ritala, M.; Leskelä, M.; Miranda, E.

Organisationer och upphovspersoner

Helsingfors universitet

Kukli K.

Leskelä M.

Ritala M.

Kemell M.

Publikationstyp

Publikationsform

Artikel

Moderpublikationens typ

Konferens

Artikelstyp

Annan artikel

Målgrupp

Vetenskaplig

Kollegialt utvärderad

Kollegialt utvärderad

UKM:s publikationstyp

A4 Artikel i en konferenspublikation

Publikationskanalens uppgifter

Moderpublikationens namn

Microelectronics Reliability

Volym

54

Nummer

9-10

Sidor

1707-1711

Publikationsforum

63338

Publikationsforumsnivå

1

Öppen tillgång

Öppen tillgänglighet i förläggarens tjänst

Ingen information

Parallellsparad

Okänd

Övriga uppgifter

Vetenskapsområden

Fysik; Kemi

Publiceringsland

Tyskland

Förlagets internationalitet

Internationell

Språk

engelska

Internationell sampublikation

Ja

Sampublikation med ett företag

Okänd

DOI

10.1016/j.microrel.2014.07.067

Publikationen ingår i undervisnings- och kulturministeriets datainsamling

Ja